이 책은 실무 현장에서 통계, 데이터 분석이 가장 많이 활용되는 분야 중의 하나인 통계적 공정 관리(Statistical Process Control)에 대한 내용을 담고 있습니다. 통계적 공정 관리(SPC : Statistical Process Control)는 통계적 관점과 분석 방법을 사용하여 프로세스의 변동(Variation)을 개선하고 안정되고 능력이 있는 프로세스를 유지하기 위한 제반 관리 기법이라 할 수 있습니다.
통계적 공정 관리는 아래와 같이 세 가지 세부 영역을 포함하고 있으며, 이 책은 이에 대한 JMP 활용법을 담고 있습니다.
1) 실제 데이터와 측정된 데이터 간의 차이와 산포를 살펴보는 측정 시스템 분석(MSA : Measurement System Analysis)
2) 시간의 흐름에 따른 데이터의 안정성(Stability)을 검토하는 관리도(Control Chart)
3) 해당 데이터의 수준, 능력(Capability)을 고객의 요구 사항(Spec)과 대비하여 살펴보는 공정 능력 분석(Process Capability Analysis)
이 책은 크게 5부로 구분되어 있습니다. ‘1부. 품질 관리와 공정 관리’에서는 통계적 공정 관리의 이해에 필요한 기본적인 개념에 대해 살펴보고 통계적 공정 관리의 3대 영역인 측정 시스템 분석, 관리도, 공정 능력 분석의 순서로 2부부터 4부까지 포함하였습니다. 마지막으로 보다 실무적인 이해와 활용을 위해 세 가지의 사례를 담아 ‘5부. 사례 분석(Case Study)’을 구성하였습니다.
Contents
1부 : 품질 관리와 공정 관리
1장, 변동의 이해
1. 변동(Variation)
2. SQC와 SPC
2장. 통계적 공정 관리를 위한 JMP 부가 기능
1. 한계 관리(Manage Limits)
2. SPC 관련 열 속성(Column Properties)
3. 파레토 차트와 다이아그램
2부 : 측정 시스템 분석
3장. 측정 시스템 분석 기초
1. 기본 개념
2. 측정 시스템 분석 방법의 종류 및 순서
3. JMP의 측정 시스템 분석 기능
4장. AIAG Gauge R&R
1. 반복성과 재현성
2. 편의와 선형성
5장. 측정 시스템 분석의 다른 방법
1. EMP 방법
2. Type 1 Gauge
3. 범주형 데이터에 대한 측정 시스템 분석
6장. 실무 활용을 위한 몇 가지 토픽
1. 측정 시스템 변동의 공정 능력 지수에 대한 영향
2. 변동성 차트(Variability Chart)
3. 측정 시스템 분석을 위한 디자인
4. Kappa 통계량의 계산
5. 파괴 검사의 경우 측정 시스템 분석
3부 : 관리도
7장. 관리도의 기본 개념
1. 우연원인과 이상원인
2. 합리적 부분군(Rational Subgrouping)
3. 군내 산포 추정을 위한 몇 가지 방법
4. JMP의 관리도 기능
8장. 계량형 관리도
1. Control Chart Builder 1
2. I-MR 관리도
3. Xbar-R 관리도
4. Levey Jennings(레비 제닝) 관리도
5. Short Run 관리도
12장. 실무 활용을 위한 몇 가지 토픽
1. 적절한 관리도의 선택
2. Hover Label 기능의 활용
3. 자동 재계산과 Alarm Script
4. 희귀 사건 관리도
4부 : 공정 능력 분석
13장. 공정 능력 분석 기초
1. 공정 능력과 공정 능력 지수
2. JMP의 공정 능력 분석 기능
14장. 하나의 변수에 대한 공정 능력 분석
1. 기본적인 분석
2. 공정 능력의 개선
3. 정규성 검정
4. 공차 구간(Tolerance Interval)의 확인
5. 공정 능력 분석을 위해 필요한 습관
15장. 여러 변수에 대한 공정 능력 분석
1. 기본적인 분석
2. 가장 적합한 분포에 대한 인식
16장. 공정 능력과 안정성 분석을 동시에
1. 관리도에서 공정 능력 분석
2. Process Screening
17장. 실무 활용을 위한 몇 가지 토픽
1. Subgroup Size, 공정 능력과 관리도
2. 프로세스의 안정성과 공정 능력
3. 감지 한계가 있을 경우의 공정 능력 분석
5부 : 사례 분석(Case Study)
1. JMP Script를 활용한 공정 능력 분석 자동화
2. Bakery Shop에 통계적 공정 관리 적용
3. 제약 회사의 통계적 공정 관리
Author
이종선,신익주
삼성전자 CS경영센터에서 SPC 업무를 담당하였으며 인하대학교 수학통계학부에서 품질관리 및 6시그마를 강의하였다. 삼성전자에 기초통계 및 SPC, MSA 표준교재를 개발 제공하였고 현재 공학통계연구소(www.iesrnd.com) 대표이자 연구소장을 맡고 있으며, JMP를 이용한 통계 분석 교육에 힘쓰고 있다.
삼성전자 CS경영센터에서 SPC 업무를 담당하였으며 인하대학교 수학통계학부에서 품질관리 및 6시그마를 강의하였다. 삼성전자에 기초통계 및 SPC, MSA 표준교재를 개발 제공하였고 현재 공학통계연구소(www.iesrnd.com) 대표이자 연구소장을 맡고 있으며, JMP를 이용한 통계 분석 교육에 힘쓰고 있다.